расширенный поиск

Книга: Fundamental Principles of Engineering Nanometrology *

Товар № 10724139
Издательство: Elsevier
Вес: 0.500 кг.
Год издания: 2012
Формат: 22,4x15x2 см
Страниц: 400
Товар отсутствует
Узнать о поступлении

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Читать далее