КОД (ISBN):
978-5-94836-385-1

Книга: Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

Товар № 10817824

Автор: Шварц А.

Издательство: Техносфера

Вес: 1.160 кг.

Год издания: 2014

Формат: 70х100/16

Страниц: 544 Переплет: Твердый переплет

Цена: 1 322 руб.

В КОРЗИНУ

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности
каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Перевод на русский язык второго оригинального издания книги "Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении" является одной из
первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.
Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.