КОД (ISBN):
5-94836-018-0

Книга: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Товар № 1883536

Автор: Брандон Д., Каплан У.

Издательство: Техносфера

Вес: 0.660 кг.

Год издания: 2006

Страниц: 384

Товар отсутствует

Узнать о поступлении

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.