КОД (ISBN):
978-5-9963-1110-1

Книга: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий

Товар № 10666516

методы и применения

Автор: Автор не указан

Издательство: Лаборатория знаний

Вес: 0.900 кг.

Год издания: 2019

Формат: 70х100/16

Страниц: 582 Переплет: Твердый переплет

Товар отсутствует

Узнать о поступлении

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и охватывает не только исследования характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны оригинальные статьи и обзоры видных специалистов в разных областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные методы РЭМ, включающие просвечивающую микроскопию с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования структуры и свойств биообъектов. Применения РЭМ включают изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур, электронно-лучевую нанолитографию, а также конструирование наноматериалов с применением фокусированного ионного пучка и наноманипуляции.
Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.